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Produktbeschreibung
Die Spitzenoptik von Leica Geosystems sorgt beim NA2 für ein helles und konstrastreiches Fernrohrbild. Für eine grössere Genauigkeit kann ein Planplattenmikrometer über dem Fernrohrobjektiv aufgesteckt werden. Das Planplattenmikrometer ermöglicht direktes Ablesen bis auf 0.1 mm und ein geschätzes Ablesen bis auf 0.01mm. Damit wird das NA2 und das NAK2 zum perfekten Präzisionsnivellier für Deformationsmessungen oder Industrievermessungen. Für die Ablesung von Horizontalwinkeln verfügt das NAK2 über einen internen Glasteilkreis. Zusammen mit der Distanzberechnung aus der Lattenablesung bringt der NAK2-Kreis den zusätzlichen Vorteil einer Applikation aus der Detailvermessung.
Präzisionsnivelliere für hohe Anforderungen. NA2 ist ein Universalnivelliere für alle Anforderungen des Präzisionsnivellements.
- Rechtlesend Bild
- Befestigungsständer mit 5/8" Montage
- Mit Distanzfäden und Keil
- Taster für Kompensator Kontrolle
- Optionale Okulare stehen zur Verfügung
- Geliefert im Koffer
[Preis auf Anfrage (DE)]
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{{itemRebate.AmountStart}} - {{itemRebate.AmountEnd}}
{{itemRebate.AmountStart}}
{{itemRebate.AmountStart}} +
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{{item.ItemCode}}
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{{item.EANCode}}
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{{item.UNSPSC}}
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{{item.ItemBrandDescription}}
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{{item.SupplierCode}}
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{{item.ItemSupplierCode}}
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{{item.UOM}} {{item.UOMType.Description}}
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{{item.PackSize}}
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Die Spitzenoptik von Leica Geosystems sorgt beim NA2 für ein helles und konstrastreiches Fernrohrbild. Für eine grössere Genauigkeit kann ein Planplattenmikrometer über dem Fernrohrobjektiv aufgesteckt werden. Das Planplattenmikrometer ermöglicht direktes Ablesen bis auf 0.1 mm und ein geschätzes Ablesen bis auf 0.01mm. Damit wird das NA2 und das NAK2 zum perfekten Präzisionsnivellier für Deformationsmessungen oder Industrievermessungen. Für die Ablesung von Horizontalwinkeln verfügt das NAK2 über einen internen Glasteilkreis. Zusammen mit der Distanzberechnung aus der Lattenablesung bringt der NAK2-Kreis den zusätzlichen Vorteil einer Applikation aus der Detailvermessung.Wählen Sie eine Registerkarte
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{{item.Description | maxLength: 50}}
Artikelnummer:
{{item.ItemCode}}
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{{item.Description | maxLength: 50}}
Artikelnummer:
{{item.ItemCode}}
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{{item.Description | maxLength: 50}}
Artikelnummer:
{{item.ItemCode}}
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Artikelnummer:
{{item.ItemCode}}
Marke:
{{item.ItemBrandDescription}}
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